标题：对话UCL青年教授赵湖斌：可穿戴式DOT如何重塑脑机接口

我们该如何实时监控大脑健康？侵入式脑机接口如Neuralink虽精准，但开颅手术风险高；非侵入式设备虽无创，但易受干扰且不适合健康检测；MRI虽安全无辐射，但设备昂贵且不便移动。若要设计便携、高效、安全的设备，还需另辟蹊径。

伦敦大学学院(UCL)助理教授赵湖斌介绍其团队研发的新技术——功能性近红外光谱成像结合漫射光层析成像(DOT)，可实现高精度3D脑功能成像。DOT通过多光源与探测器，提供详细的大脑活动图像，显著提升空间分辨率。

DOT技术不仅成像优良、成本低廉且便于携带，突破了传统成像的局限性。赵湖斌团队正研发可穿戴集成DOT-EEG设备，用于中风康复。未来，该技术有望普及至个体医疗市场，应用于康复治疗与精神疾病检测。

赵湖斌曾参与世界首款光遗传学神经调控芯片研发。因侵入式技术风险与周期限制，他转向非侵入式近红外光谱研究。DOT技术通过模块化设计，突破光纤架构限制，大幅提升通道数与成像精度，同时降低设备重量与成本。

目前，赵湖斌团队已开发出模块化贴片原型，计划将DOT与EEG整合，加入边缘计算与AI硬件，实现实时数据处理与隐私保护。产品将应用于康复、中风诊断及精神疾病监测，预计未来三年内进入临床应用。

DOT设备适用于三甲医院、社区医院及养老院等场景，未来可通过简化操作流程与增加科普活动扩大市场认知。赵湖斌希望通过持续努力，让DOT技术惠及更多人群。